電子顕微鏡・EPMA 一覧
検索結果44件
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[1029]TEM/SEM用イオンミリング装置
- 型式
- (米)E.A.Fischione Instruments社製 TEMﾐﾙ ﾓﾃﾞﾙ1051
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1045]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200kV(LaB6電子銃)・EDSマッピング
- 型式
- 日本電子 JEM-2100Plus
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1046]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200KV/80KV・球面収差補正装置（照射系）・EDS分析…
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F (STEMコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[130]透過型電子顕微鏡(FE-TEM)
加速電圧：200kV分解能：粒子像：0.19nm,格子像：0.1nm…
- 型式
- 日本電子 JEM-2100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[161]FE-SEM
低加速電圧でも高分解能・強励磁コニカルレンズFESEM半導体をはじめとする超…
- 型式
- 日本電子 JSM-6700F
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 青葉山キャンパス
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[239]超高分解能分析走査型電子顕微鏡 一式〔リンク〕
- 型式
- 株式会社日立ハイテク SU-70形
- 所在
- 工学研究科（機械・知能系） / 青葉山キャンパス
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[246]日本電子(株)製 サーマル電界放出形走査電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- JEOL JSM-7800F
- 所在
- 工学研究科（マテリアル・開発系） / 青葉山キャンパス
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[294]分析走査電子顕微鏡
・分解能：高真空モード3.0nm（30kV）,8nm（3kV）,15…
- 型式
- 日本電子 JSM-6610A（OIM結晶方位解析装置含む）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[308]超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
- 型式
- 日立ハイテクノロジーズ S-5200
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[337]超高分解能収差補正型走査透過電子顕微鏡システム〔リンク〕
- 型式
- FEI Titan G2 60-300型
- 所在
- 研究推進・支援機構（先端電子顕微鏡センター） / 片平キャンパス
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[345]熱電子SEM〔リンク〕
EDX付、低真空モード付、光学画像ナビゲーション付
- 型式
- 日立ハイテクノロジーズ / 堀場製作所 S-3700N型 / EMAX Energy
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[526]分析走査電子顕微鏡
・写真倍率：×5～300,000(128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規…
- 型式
- 日本電子 JSM-IT200(A)
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
