電子顕微鏡・EPMA 一覧
検索結果23件
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[056]電子ビーム蛍光X線元素分析装置
用途表面観察、元素分析（EDXWDX）結晶方位解析（EBSD）仕様電子…
- 型式
- 日立 電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[057]X線励起蛍光X線元素分析装置
用途粉末、液体試料の組成分析仕様分光方法：波長分散型X線分光（WDX）測…
- 型式
- リガク X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[072]電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析・加速電…
- 型式
- 日本電子 JXA-8530Ｆ
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[088]透過電子顕微鏡
加速電圧100kVクラスの透過電子顕微鏡で（現在は80kv上限）、生物試料の観察…
- 型式
- 日立 H-7650
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[089]走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付)
動物、植物、微生物、土壌等の試料表面の微細構造観察が可能です。またエネルギー分散…
- 型式
- 日立 SU8000(EDAX)
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[097]高分解能走査型電子顕微鏡
用途表面観察、測長、元素分析（EDX）仕様電子銃：冷陰極電界放出型分解能…
- 型式
- 日立 高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[099]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム
・インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加…
- 型式
- 日本電子 JSM-7800F
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[100]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム(クロスセクションポリッシング)
柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。・…
- 型式
- 日本電子 IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[130]透過型電子顕微鏡(FE-TEM)
加速電圧：200kV分解能：粒子像：0.19nm,格子像：0.1nm…
- 型式
- 日本電子 JEM-2100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[131]走査型電子顕微鏡・結晶方位解析(FE-SEM/EBSD)
加速電圧：1-30kV分解能：1.2nm(@30kV),3.0nm(@…
- 型式
- 日本電子 JSM-7100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[161]FE-SEM
低加速電圧でも高分解能・強励磁コニカルレンズFESEM半導体をはじめとする超…
- 型式
- 日本電子 JSM-6700F
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 青葉山キャンパス
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[294]分析走査電子顕微鏡
・分解能：高真空モード3.0nm（30kV）,8nm（3kV）,15…
- 型式
- 日本電子 JSM-6610A（OIM結晶方位解析装置含む）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
