[100]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム(クロスセクションポリッシング)

ID
100
設備・機器分類
観察 | 電子顕微鏡・EPMA
利用区分
学内:〇, 学外:〇
メーカー
日本電子
型式
IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
仕様・特徴
柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。
・イオン加速電圧: 2~6kV
・イオンビーム径: 500μ以上
・最大搭載試料サイズ: 11mm(幅)×10mm(長さ)×2mm(厚さ)
・-120℃以下にサンプルを冷却可能
・試料が、SEM/GB/CP間を大気非暴露で移送できるベッセルを実装
用途・使用目的
・機械研磨による加工変質層(クラック、結晶粒微細化など)が生じやすい金属・無機物質に有効
・液体窒素による冷却加工が可能(断面作製時の加工熱で変質・変形しやすい、はんだなどの低融点金属、ポリマーに有効)
キャンパス
片平キャンパス
部局
産学連携先端材料研究開発センター
管理部署
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/54
備考
チャットボット ハギボー