- ID
- 100
- 設備・機器分類
- 観察 ｜ 電子顕微鏡・EPMA
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- 日本電子
- 型式
- IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
- 仕様・特徴
- 柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。
・イオン加速電圧： ２～６ｋV
・イオンビーム径： 500μ以上
・最大搭載試料サイズ： 11mm（幅）×10mm（長さ）×2ｍｍ（厚さ）
・－120℃以下にサンプルを冷却可能
・試料が、SEM/GB/CP間を大気非暴露で移送できるベッセルを実装 - 用途・使用目的
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- キャンパス
- 片平キャンパス
- 部局
- 産学連携先端材料研究開発センター
- 管理部署
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- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/54
- 備考
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