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観察 一覧
検索結果152件
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[008]高分解能CTスキャンシステム
高分解能CTスキャンシステム１）高精細小型標本用装置ScanXmate-D11…
- 型式
- コムスキャンテクノ 高精細小型標本用装置ScanXmate-D160TSS105／11000 ほか
- 所在
- 学術資源研究公開センター / 青葉山キャンパス
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[029]三次元微小構造解析システム〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F(UHR), JIB-4600F
- 所在
- 工学研究科（マテリアル・開発系） / 青葉山キャンパス
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[056]電子ビーム蛍光X線元素分析装置
用途表面観察、元素分析（EDXWDX）結晶方位解析（EBSD）仕様電子…
- 型式
- 日立 電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[057]X線励起蛍光X線元素分析装置
用途粉末、液体試料の組成分析仕様分光方法：波長分散型X線分光（WDX）測…
- 型式
- リガク X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[061]レオメータ
下記のトライボロジー融合研究拠点のページを参照してください。http://tr…
- 型式
- Brookfield RS-CPSコーンプレート型
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[062]モジュラーコンパクトレオメーター
・粘弾性測定、材料特性評価・駆動ベアリング方式：空気・ECモーター：あり・…
- 型式
- Anton-Paar MCR302
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[064]接触角・表面張力計
下記のトライボロジー融合研究拠点のページを参照してください。http://tr…
- 型式
- 協和界面科学 DM-301
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[065]摩擦試験機
特徴：本装置は、室温から150℃までの温度範囲において摩擦摩耗試験を行うことが可…
- 型式
- Bruker AXS UNMT-1MT-WS
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[070]微細加工システム FIB/SEM デュアルビームシステム
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[072]電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析・加速電…
- 型式
- 日本電子 JXA-8530Ｆ
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[085]サブオングストローム電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- FEI Titan80-300
- 所在
- 研究推進・支援機構（先端電子顕微鏡センター） / 片平キャンパス
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[086]低加速高分解能走査電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- 日立 SU8000
- 所在
- 研究推進・支援機構（先端電子顕微鏡センター） / 片平キャンパス
