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観察 一覧
検索結果101件
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[008]高分解能CTスキャンシステム
高分解能CTスキャンシステム１）高精細小型標本用装置ScanXmate-D11…
- 型式
- コムスキャンテクノ 高精細小型標本用装置ScanXmate-D160TSS105／11000 ほか
- 所在
- 学術資源研究公開センター / 青葉山キャンパス
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[056]電子ビーム蛍光X線元素分析装置
用途表面観察、元素分析（EDXWDX）結晶方位解析（EBSD）仕様電子…
- 型式
- 日立 電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[057]X線励起蛍光X線元素分析装置
用途粉末、液体試料の組成分析仕様分光方法：波長分散型X線分光（WDX）測…
- 型式
- リガク X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[061]レオメータ
下記のトライボロジー融合研究拠点のページを参照してください。http://tr…
- 型式
- Brookfield RS-CPSコーンプレート型
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[062]モジュラーコンパクトレオメーター
・粘弾性測定、材料特性評価・駆動ベアリング方式：空気・ECモーター：あり・…
- 型式
- Anton-Paar MCR302
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[064]接触角・表面張力計
下記のトライボロジー融合研究拠点のページを参照してください。http://tr…
- 型式
- 協和界面科学 DM-301
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[065]摩擦試験機
特徴：本装置は、室温から150℃までの温度範囲において摩擦摩耗試験を行うことが可…
- 型式
- Bruker AXS UNMT-1MT-WS
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[070]微細加工システム FIB/SEM デュアルビームシステム
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[072]電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析・加速電…
- 型式
- 日本電子 JXA-8530Ｆ
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[088]透過電子顕微鏡
加速電圧100kVクラスの透過電子顕微鏡で（現在は80kv上限）、生物試料の観察…
- 型式
- 日立 H-7650
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[089]走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付)
動物、植物、微生物、土壌等の試料表面の微細構造観察が可能です。またエネルギー分散…
- 型式
- 日立 SU8000(EDAX)
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[090]共焦点レーザースキャン顕微鏡
倒立顕微鏡搭載レーザー（Diode405,Diode440,Argon(…
- 型式
- Carl-Zeiss LSM 710
- 所在
- 生命科学研究科 / 片平キャンパス
