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観察 一覧
検索結果149件
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[1040]ウェハマッピング分光エリプソ〔リンク〕
薄膜の厚さ、屈折率測定サンプルサイズ：小片～8インチ測定波長域：210～16…
- 型式
- (米)J.A.Woollam RC2-UI-TTk
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[1045]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200kV(LaB6電子銃)・EDSマッピング
- 型式
- 日本電子 JEM-2100Plus
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1046]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200KV/80KV・球面収差補正装置（照射系）・EDS分析…
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F (STEMコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1047]プラズマ集束イオンビーム加工装置(Amber-X)〔リンク〕
・SEM:加速電圧0.5kV～30kV高輝度ショットキー電子銃・FI…
- 型式
- 東陽テクニカ TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1079]Zetasizer Ultra (RED)
以下のURLからご確認ください。https://www.malvernpana…
- 型式
- Malvern Panalytical ZSU3305
- 所在
- 学際科学フロンティア研究所 / 青葉山キャンパス
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[1094]XeプラズマFIB-SEM
- 型式
- TESCAN S8000X
- 所在
- 理学研究科 / 青葉山キャンパス
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[1098]ゲルマニウム半導体検出器
- 型式
- ORTEC GEM30P4-70
- 所在
- 工学研究科（機械・知能系） / 青葉山キャンパス
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[1104]電界放出型走査電子顕微鏡 (S-4800・多元)
- 型式
- ⽇⽴ハイテクノロジーズ製 S-4800
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1106]TEM
- 型式
- JEOL JEM-2100PLUS
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1107]TPD
- 型式
- ー
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[111]FIB／SEM（NVision40）
トリプルビーム方式
- 型式
- Carl Zeiss Microscopy N-Vision40
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[1114]共焦点レーザー走査・スピニングディスクコンボ顕微鏡（FV5000）
【型式】倒立型（ix85）【搭載レーザー】405，488，518，640nm…
- 型式
- EVIDENT FV5000-IX85SpinSR
- 所在
- 加齢医学研究所 / 星陵キャンパス
