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観察 一覧
検索結果104件
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[096]3D測定レーザー顕微鏡
走査型共焦点レーザ顕微鏡は高密度化する半導体や微細加工されたMEMSなどの三次元…
- 型式
- オリンパス LEXT OLS
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[097]高分解能走査型電子顕微鏡
用途表面観察、測長、元素分析（EDX）仕様電子銃：冷陰極電界放出型分解能…
- 型式
- 日立 高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[099]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム
・インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加…
- 型式
- 日本電子 JSM-7800F
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[100]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム(クロスセクションポリッシング)
柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。・…
- 型式
- 日本電子 IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[1006]AFM
- 型式
- ParkSystems NX10-T2
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1009]FIB/SEM/STEMシステム
- 型式
- 日本電子株式会社 JIB-PS500i/JEM-ARM200F
- 所在
- 工学研究科（マテリアル・開発系） / 青葉山キャンパス
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[111]FIB／SEM（NVision40）
トリプルビーム方式
- 型式
- Carl Zeiss Microscopy N-Vision40
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[130]透過型電子顕微鏡(FE-TEM)
加速電圧：200kV分解能：粒子像：0.19nm,格子像：0.1nm…
- 型式
- 日本電子 JEM-2100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[131]走査型電子顕微鏡・結晶方位解析(FE-SEM/EBSD)
加速電圧：1-30kV分解能：1.2nm(@30kV),3.0nm(@…
- 型式
- 日本電子 JSM-7100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[161]FE-SEM
低加速電圧でも高分解能・強励磁コニカルレンズFESEM半導体をはじめとする超…
- 型式
- 日本電子 JSM-6700F
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 青葉山キャンパス
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[162]顕微鏡
・光学顕微鏡・小片から8インチウェハまで対応可。・電子ファイル画像保存可。
- 型式
- オリンパス MX50
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 青葉山キャンパス
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[198]超解像レーザー顕微鏡
- 型式
- Leica Microsystems TCS SP8 STED
- 所在
- 医工学研究科 / 青葉山キャンパス
