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観察 一覧
検索結果146件
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[088]透過電子顕微鏡
加速電圧100kVクラスの透過電子顕微鏡で（現在は80kv上限）、生物試料の観察…
- 型式
- 日立 H-7650
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[089]走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付)
動物、植物、微生物、土壌等の試料表面の微細構造観察が可能です。またエネルギー分散…
- 型式
- 日立 SU8000(EDAX)
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[090]共焦点レーザースキャン顕微鏡
倒立顕微鏡搭載レーザー（Diode405,Diode440,Argon(…
- 型式
- Carl-Zeiss LSM 710
- 所在
- 生命科学研究科 / 片平キャンパス
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[096]3D測定レーザー顕微鏡
走査型共焦点レーザ顕微鏡は高密度化する半導体や微細加工されたMEMSなどの三次元…
- 型式
- オリンパス LEXT OLS
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[097]高分解能走査型電子顕微鏡
用途表面観察、測長、元素分析（EDX）仕様電子銃：冷陰極電界放出型分解能…
- 型式
- 日立 高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[099]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム
・インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加…
- 型式
- 日本電子 JSM-7800F
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[100]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム(クロスセクションポリッシング)
柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。・…
- 型式
- 日本電子 IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[1006]AFM
- 型式
- ParkSystems NX10-T2
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1008]クライオ走査型電子顕微鏡装置〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 CRYO-FIB-SEM JIB-4700F
- 所在
- 未来型医療創成センター / 星陵キャンパス
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[1009]FIB/SEM/STEMシステム
- 型式
- 日本電子株式会社 JIB-PS500i/JEM-ARM200F
- 所在
- 工学研究科（マテリアル・開発系） / 青葉山キャンパス
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[1029]TEM/SEM用イオンミリング装置
- 型式
- (米)E.A.Fischione Instruments社製 TEMﾐﾙ ﾓﾃﾞﾙ1051
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1039]ベンチトップ型共焦点顕微鏡BC43
【イメージングモード】共焦点（レーザー）、蛍光（レーザー）、透過光（LED）（明…
- 型式
- ANDOR BC43
- 所在
- 病院 / 星陵キャンパス
