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観察 一覧
検索結果174件
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[736]Zygo Nexview
表面形状の精密測定
- 型式
- Zygo
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[737]2光子励起顕微鏡
マルチフォトンレーザ顕微鏡システム、超解像オプション付、細胞の高精細蛍光イメージ…
- 型式
- ライカ
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[741]FE-SEM/EDS
倍率：25-1,000,000加速電圧：0.01-30kV電子銃：イ…
- 型式
- 日本電子 JSM7800, Oxford X-Max
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[743]卓上走査電子顕微鏡
写真倍率×10～100,000（128mm×96mmを表示サイズ…
- 型式
- 日本電子 JCM-7000(EDS,ステージナビゲーションシステム含む)
- 所在
- 学術資源研究公開センター / 青葉山キャンパス
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[751_1]【ARIM】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Quanta 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[751_2]【分析コア】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Quanta 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[752_1]【ARIM】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Versa 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Versa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[752_2]【分析コア】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Versa 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Versa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[766]測長SEM
微細構造の高精度自動測長6、8インチは自動搬送、4インチ以下は手動搬送計測再…
- 型式
- 日立ハイテク CS4800
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[770]半導体パラメータアナライザ
半導体デバイスの特性評価
- 型式
- Key Sight B1500A SMU B1511B x4 GNDU B1500-66605
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[772]電界放出形走査電子顕微鏡（SU8600）
冷陰極電界放出形電子銃、半導体型反射電子検出器(PD-BSED)搭載
- 型式
- 日立 SU8600
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[775]微細表面構造計測顕微鏡
・広い視野をもつ光学顕微鏡と、レーザー顕微鏡（LSM）およびプローブ顕微鏡（SP…
- 型式
- 島津製作所 SFT-3500
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター /
