[1104]電界放出型走査電子顕微鏡 (S-4800・多元)

設備・機器
ID
1104
設備・機器分類
観察 | 電子顕微鏡・EPMA
利用区分
学内:〇, 学外:〇
メーカー
⽇⽴ハイテクノロジーズ製 S-4800
型式
仕様・特徴
二次電子分解能:
 1.0nm (加速電圧15kV、WD=4mm)
 1.4nm (照射電圧1kV、WD=1.5mm、リターディングモード)
 2.0nm (加速電圧1kV、WD=1.5mm、標準モード)

倍率:
 LMモード ×20~2,000
 HMモード ×100~800,000
 (WD,HVによって倍率範囲が異なる)

電子銃:冷陰極電解放出型電子銃
プローブ電流:1pA~2nA
加速電圧:0.5~30kV(標準モード)
照射電圧:0.1~2.0kV(リターディングモード)

検出器: 二次電子検出器(Upper/Lower)、反射電子検出器、エネルギー分散型X線検出器

試料サイズ:最大100mm径
用途・使用目的
金属材料、セラミックス、カーボン材料、電子デバイス、半導体、高分子、生体組織(要乾燥処理)など、あらゆる固体試料の表面形状観察が可能です。

低加速電圧条件でも1.4 nmの高い分解能で観察でき(リターディング使用時)、ダメージを受けやすい試料や、試料極表面の微細構造も鮮明に観察できます。

非導電性試料については、PtまたはCでのコーティングを行えます(別途、[1105]マグネトロンスパッタ装置・カーボンコーターへ利用申請が必要です)

磁性体の観察は不可。
キャンパス
片平キャンパス
部局
多元物質科学研究所
管理部署
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/969?utm_source=portal&utm_medium=link
学外利用料金

※更新の都合で実際の料金とは異なる場合がございます。
本人利用: 2,259円 / 時間
学内利用料金
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