電子顕微鏡・EPMA 一覧
検索結果51件
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[549_1]【ARIM】透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2000EXII
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549_2]【分析コア】透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2000EXII
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550_1]【ARIM】超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (ダブルコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550_2]【分析コア】超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (ダブルコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[551]イオンミリング加工装置〔リンク〕
終点検知・試料冷却
- 型式
- FISCHINE MODEL 1010
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[553]オスミウムコータ〔リンク〕
- 型式
- メイワフォーシス NEOC-PRO
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[562]SEM（JSM-7401F）
2次電子像分解能加速電圧15kV:1.0nm、1kVGBモード1.5nm
- 型式
- 日本電子 JSM-7401F
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[641]超高分解能電界放出形インレンズ走査電子顕微鏡
二次電子像分解能（高加速電圧30kV）0.4nm（低加速電圧1kV…
- 型式
- 日立 S-5500形
- 所在
- 理学研究科 / 青葉山キャンパス
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[718]クライオ透過電子顕微鏡装置
加速電圧300kV，200kV・μED法および単粒子解析法による有機薄膜、たんぱ…
- 型式
- 日本電子 JEM-3300
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[723]クライオ透過型電子顕微鏡装置〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 JEM-3300 CRYOARM300Ⅱ
- 所在
- 未来型医療創成センター / 星陵キャンパス
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[741]FE-SEM/EDS
倍率：25-1,000,000加速電圧：0.01-30kV電子銃：イ…
- 型式
- 日本電子 JSM7800, Oxford X-Max
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[743]卓上走査電子顕微鏡
写真倍率×10～100,000（128mm×96mmを表示サイズ…
- 型式
- 日本電子 JCM-7000(EDS,ステージナビゲーションシステム含む)
- 所在
- 学術資源研究公開センター / 青葉山キャンパス
