- ID
- 130
- 設備・機器分類
- 観察 ｜ 電子顕微鏡・EPMA
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- 日本電子
- 型式
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200 kV
分解能：粒子像：0.19 nm, 格子像：0.1 nm
電子銃：ショットキー型FE電子銃
プローブモード：TEM, STEM
付属装置：エネルギー分散型X線分光器（EDX）[検出元素：B～U,エネルギー分解能：133 eV]
走査透過電子顕微鏡（STEM）Dark-STEM
高精細ボトムマウントCCDカメラ
各種試料ホルダー[ベリリウム2軸傾斜] - 用途・使用目的
- 局所領域における構造解析（明視野像、暗視野像、高分解能像、電子線回折）、元素分析（点、マッピング、定性、定量）
- キャンパス
- 青葉山キャンパス
- 部局
- 工学研究科（本部）
- 管理部署
- 技術部 合同計測分析室
- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/78
- 備考
- 試料が観察用グリッド（φ3mm）に固定されている、もしくは薄片化されている必要があります。
試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。
