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28_産学連携先端材料研究開発センター 一覧
検索結果8件
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[068]多目的X線結晶構造解析システム
・光学系部は、Cu。・１次元高速検出器は、検出素子が800μm厚のSili…
- 型式
- リガク SmartLab 3G
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[069]多目的X線結晶構造解析システム
・光学系部は、ミラーの切り替えでCu,Moの２波長に対応可能。・検出器…
- 型式
- リガク VariMax DW with IP
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[070]微細加工システム FIB/SEM デュアルビームシステム
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[072]電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析・加速電…
- 型式
- 日本電子 JXA-8530Ｆ
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[073]多機能走査型X線光電子分光分析装置
・走査型X線源によりビーム径は、10μm～200μmの間で設定可能。・S…
- 型式
- アルバック・ファイ PHI-5000VersaProbeⅡ-TSS
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[074]顕微可視赤外分光システム
・時間分解発光測定用ストリークカメラと励起用レーザーを用いて発光分光測定、スト…
- 型式
- 東京インスツルメンツ NX-FLIM-TO3
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[099]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム
・インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加…
- 型式
- 日本電子 JSM-7800F
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[100]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム(クロスセクションポリッシング)
柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。・…
- 型式
- 日本電子 IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
