[068]多目的X線結晶構造解析システム

ID
068
設備・機器分類
分析 | X線分析
利用区分
学内:〇, 学外:〇
メーカー
リガク
型式
SmartLab 3G
仕様・特徴
・ 光学系部は、Cu。
・ 1次元高速検出器は、検出素子が800μm厚のSilicon Strip Detectorで有効面積256mm2、ストリップ幅100ミクロンの直接検出型半導体ストリップ検出器となっている。
・ X線発生装置部の最大定格出力:3kW
・ ゴニオメータ部: 試料水平配置型θーθゴニオメータ
・ ターゲット:Cu
・気密試料ホルダー使用対応
用途・使用目的
薄膜試料・粉末試料・バルク試料の構造解析
●定性分析 ●定量分析 ●薄膜評価 ●粒径評価 ●結晶性評価 ●応力評価 ●配向評価
キャンパス
片平キャンパス
部局
産学連携先端材料研究開発センター
管理部署
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/40
備考
チャットボット ハギボー