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設備・機器分類 一覧
検索結果682件
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[070]微細加工システム FIB/SEM デュアルビームシステム
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[072]電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析・加速電…
- 型式
- 日本電子 JXA-8530Ｆ
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[073]多機能走査型X線光電子分光分析装置
・走査型X線源によりビーム径は、10μm～200μmの間で設定可能。・S…
- 型式
- アルバック・ファイ PHI-5000VersaProbeⅡ-TSS
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[085]サブオングストローム電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- FEI Titan80-300
- 所在
- 研究推進・支援機構（先端電子顕微鏡センター） / 片平キャンパス
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[086]低加速高分解能走査電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- 日立 SU8000
- 所在
- 研究推進・支援機構（先端電子顕微鏡センター） / 片平キャンパス
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[088]透過電子顕微鏡
加速電圧100kVクラスの透過電子顕微鏡で（現在は80kv上限）、生物試料の観察…
- 型式
- 日立 H-7650
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[089]走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付)
動物、植物、微生物、土壌等の試料表面の微細構造観察が可能です。またエネルギー分散…
- 型式
- 日立 SU8000(EDAX)
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
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[090]共焦点レーザースキャン顕微鏡
倒立顕微鏡搭載レーザー（Diode405,Diode440,Argon(…
- 型式
- Carl-Zeiss LSM 710
- 所在
- 生命科学研究科 / 片平キャンパス
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[094]高速ラマンイメージングシステム
レーザー光源：355,532,785nm波数分解能：1cm-1(532…
- 型式
- Renishaw inVia共焦点ラマンマイクロスコープ
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[096]3D測定レーザー顕微鏡
走査型共焦点レーザ顕微鏡は高密度化する半導体や微細加工されたMEMSなどの三次元…
- 型式
- オリンパス LEXT OLS
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[097]高分解能走査型電子顕微鏡
用途表面観察、測長、元素分析（EDX）仕様電子銃：冷陰極電界放出型分解能…
- 型式
- 日立 高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[099]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム
・インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加…
- 型式
- 日本電子 JSM-7800F
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
