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設備・機器分類 一覧
検索結果697件
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[046]波長可変パラメトリック増幅器分光イメージングシステム
- 型式
- プレスト 超短パルスレーザー分子イメージングシステム
- 所在
- 医工学研究科 / 青葉山キャンパス
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[056]電子ビーム蛍光X線元素分析装置
用途表面観察、元素分析（EDXWDX）結晶方位解析（EBSD）仕様電子…
- 型式
- 日立 電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[057]X線励起蛍光X線元素分析装置
用途粉末、液体試料の組成分析仕様分光方法：波長分散型X線分光（WDX）測…
- 型式
- リガク X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[060]和周波発生振動分光装置
和周波発生システムは、表面（界面）に波長を固定した可視域レーザー光と波長可変赤外…
- 型式
- 東京インスツルメンツ ブロードバンドSFGフェムト秒二重共鳴(fs-SFG DR)
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[061]レオメータ
下記のトライボロジー融合研究拠点のページを参照してください。http://tr…
- 型式
- Brookfield RS-CPSコーンプレート型
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[062]モジュラーコンパクトレオメーター
・粘弾性測定、材料特性評価・駆動ベアリング方式：空気・ECモーター：あり・…
- 型式
- Anton-Paar MCR302
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[064]接触角・表面張力計
下記のトライボロジー融合研究拠点のページを参照してください。http://tr…
- 型式
- 協和界面科学 DM-301
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[065]摩擦試験機
特徴：本装置は、室温から150℃までの温度範囲において摩擦摩耗試験を行うことが可…
- 型式
- Bruker AXS UNMT-1MT-WS
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[068]多目的X線結晶構造解析システム
・光学系部は、Cu。・１次元高速検出器は、検出素子が800μm厚のSili…
- 型式
- リガク SmartLab 3G
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[070]微細加工システム FIB/SEM デュアルビームシステム
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[072]電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析・加速電…
- 型式
- 日本電子 JXA-8530Ｆ
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[073]多機能走査型X線光電子分光分析装置
・走査型X線源によりビーム径は、10μm～200μmの間で設定可能。・S…
- 型式
- アルバック・ファイ PHI-5000VersaProbeⅡ-TSS
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
