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観察 一覧
検索結果149件
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[551]イオンミリング加工装置〔リンク〕
終点検知・試料冷却
- 型式
- FISCHINE MODEL 1010
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[552]イオンスライサ加工装置〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 EM-09100 IS
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[553]オスミウムコータ〔リンク〕
- 型式
- メイワフォーシス NEOC-PRO
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[555]絶対PL量子収率測定装置
PL測定波長範囲:300－950nm励起波長範囲:250－850nm…
- 型式
- 浜松ホトニクス Quantaurus-QY C11347-01
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[562]SEM（JSM-7401F）
2次電子像分解能加速電圧15kV:1.0nm、1kVGBモード1.5nm
- 型式
- 日本電子 JSM-7401F
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[568]レーザー顕微鏡（1LM21）
用途：フォトリソグラフィプロセス全般（レジスト塗布、ベーキング、現像、パターン確…
- 型式
- レーザーテック 1LM21
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[582]AFM（nano cute）
用途：表面形状観察
- 型式
- 日立ハイテクサイエンス nano cute
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[583]段差計（DEKTAK XT-A)
用途：試料表面に形成された段差、表面形状、表面粗さ評価
- 型式
- Bruker DEKTAK XT-A
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[590]ワイドレンジナノ形状測定システム（Si室）
紫外レーザ顕微鏡、波長408nm。最大光学ズーム倍率6倍。観察視野21～560n…
- 型式
- 島津製作所 FT-3500
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[591]4探針抵抗率測定器（Si室）
プローブ間隔0.635mm。プローブ先端曲率40ミクロン。最大針圧200g。
- 型式
- ナプソン RT-70/RG-7
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[593]原子スケール評価分析システム（Si室）
反射高速電子回折（RHEED）。最大加速電圧は0kV。最大試料サイズ4mm角ある…
- 型式
- Omicron
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[604]原子間力顕微鏡（Veeco）
●用途走査型プローブ顕微鏡の探針によるナノメートルスケールの加工機能・…
- 型式
- Bruker Dimension Icon
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
