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観察 一覧
検索結果174件
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[502]断面SEM
小片専用、インレンズ式の高分解能FESEM
- 型式
- 日立ハイテク S5000
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[511]直線集束ビーム超音波材料解析システム#1
固体試料の漏洩弾性表面波(LSAW)速度測定
- 型式
- オリジナル -
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[517]共振ずり測定装置
固体表面間の液体薄膜の特性(粘性,弾性,摩擦･潤滑)を評価できる試料体…
- 型式
- アルバック理工 RSM-1
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[518]共焦点顕微鏡 Zeiss LSM800
・高感度GaAsp検出器を3基搭載そのうちの１基は超高解像検出器AirySca…
- 型式
- Zeiss LSM800
- 所在
- 医学系研究科 / 星陵キャンパス
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[526]分析走査電子顕微鏡
・写真倍率：×5～300,000(128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規…
- 型式
- 日本電子 JSM-IT200(A)
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[530]形状解析レーザ顕微鏡
レーザー光源：紫色半導体レーザ404nm倍率：～28800倍高さ測定表示分解…
- 型式
- キーエンス VK-X1100/1000SP2606
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[548_1]【ARIM】分析電子顕微鏡
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[548_2]【分析コア】分析電子顕微鏡
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549_1]【ARIM】透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2000EXII
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549_2]【分析コア】透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2000EXII
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550_1]【ARIM】超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (ダブルコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550_2]【分析コア】超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (ダブルコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
