- /
- 設備・機器分類
- /
- 観察
観察 一覧
検索結果144件
-
[518]共焦点顕微鏡 Zeiss LSM800
・高感度GaAsp検出器を3基搭載そのうちの１基は超高解像検出器AirySca…
- 型式
- Zeiss LSM800
- 所在
- 医学系研究科 / 星陵キャンパス
-
[526]分析走査電子顕微鏡
・写真倍率：×5～300,000(128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規…
- 型式
- 日本電子 JSM-IT200(A)
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[530]形状解析レーザ顕微鏡
レーザー光源：紫色半導体レーザ404nm倍率：～28800倍高さ測定表示分解…
- 型式
- キーエンス VK-X1100/1000SP2606
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
-
[543]レーザ回析式粒度分布測定装置〔リンク〕
- 型式
- Malvern Instruments マスターサイザー3000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
-
[548]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・高分解能観察・EDS（点分析）・プリセッション電子回折
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[549]透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・試料高傾斜・加熱ホルダー・冷却ホルダー
- 型式
- 日本電子 JEM-2000EX II
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[550]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV,80kV・収差補正（TEM/STEM)・EELS・STEM検…
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[551]イオンミリング加工装置〔リンク〕
終点検知・試料冷却
- 型式
- FISCHINE MODEL 1010
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[552]イオンスライサ加工装置〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 EM-09100 IS
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[553]オスミウムコータ〔リンク〕
- 型式
- メイワフォーシス NEOC-PRO
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[555]絶対PL量子収率測定装置
PL測定波長範囲:300－950nm励起波長範囲:250－850nm…
- 型式
- 浜松ホトニクス Quantaurus-QY C11347-01
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
-
[562]SEM（JSM-7401F）
2次電子像分解能加速電圧15kV:1.0nm、1kVGBモード1.5nm
- 型式
- 日本電子 JSM-7401F
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
