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観察 一覧
検索結果149件
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[401]電子スピン共鳴測定システム E-500
E-500・X-band・Q-band・低温クライオスタット(10K~)(…
- 型式
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- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[406]超高周波透磁率測定装置
測定周波数：1MHz～9GHz。Sパラメータ法。最大印加外部磁場2kOe。
- 型式
- 凌和電子 PMM-9G1
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[418]熱分析装置 一式
TG-DTA：常用最高温度1350℃、最大昇温速度100℃/min、TG測定レン…
- 型式
- リガク Thermo Plus Evo 2 TD
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[419]共焦点レーザー顕微鏡システムC2si
【搭載レーザーと検出色素】405（DAPIなど）、488（FITC、GFP、Al…
- 型式
- ニコン C2si
- 所在
- 病院 / 星陵キャンパス
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[517]共振ずり測定装置
固体表面間の液体薄膜の特性(粘性,弾性,摩擦･潤滑)を評価できる試料体…
- 型式
- アルバック理工 RSM-1
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[518]共焦点顕微鏡 Zeiss LSM800
・高感度GaAsp検出器を3基搭載そのうちの１基は超高解像検出器AirySca…
- 型式
- Zeiss LSM800
- 所在
- 医学系研究科 / 星陵キャンパス
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[526]分析走査電子顕微鏡
・写真倍率：×5～300,000(128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規…
- 型式
- 日本電子 JSM-IT200(A)
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[530]形状解析レーザ顕微鏡
レーザー光源：紫色半導体レーザ404nm倍率：～28800倍高さ測定表示分解…
- 型式
- キーエンス VK-X1100/1000SP2606
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[543]レーザ回析式粒度分布測定装置〔リンク〕
- 型式
- Malvern Instruments マスターサイザー3000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[548]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・高分解能観察・EDS（点分析）・プリセッション電子回折
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549]透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・試料高傾斜・加熱ホルダー・冷却ホルダー
- 型式
- 日本電子 JEM-2000EX II
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV,80kV・収差補正（TEM/STEM)・EELS・STEM検…
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
