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片平キャンパス 一覧
検索結果158件
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[1047]プラズマ集束イオンビーム加工装置(Amber-X)〔リンク〕
・SEM:加速電圧0.5kV～30kV高輝度ショットキー電子銃・FI…
- 型式
- 東陽テクニカ TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[105]弾道飛行装置
最高射出速度6km/s､射出形式(ガス銃､一段式火薬銃､二段式軽ガス銃)
- 型式
- Physics Applications Inc 射出速度 100m/s ～6km/s､射出形式(1段式ガス銃､一段式火薬銃､二段式軽ガス銃)
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[1089]吹出式風洞
測定部：開放型1.01m正八角形、または0.8m正方形最大風速：20m/s
- 型式
- ー
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[109]電子線描画装置（JBX-9300SA）
加速電圧100kV,5mm~6inchウエハ対応
- 型式
- 日本電子 JBX-9300SA
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[1104]電界放出型走査電子顕微鏡 (S-4800・多元)
二次電子分解能：1.0nm（加速電圧15kV、WD=4mm）1.4nm…
- 型式
- ⽇⽴ハイテクノロジーズ製 S-4800
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1105]マグネトロンスパッタ装置・カーボンコーター
- 型式
- 真空デバイス製 MSP-1S、VC-100
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1106]TEM
- 型式
- JEOL JEM-2100PLUS
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1107]TPD
- 型式
- ー
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[111]FIB／SEM（NVision40）
トリプルビーム方式
- 型式
- Carl Zeiss Microscopy N-Vision40
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[112]高電圧パルス選択性粉砕装置
パルス電圧：90-200kVパルス周波数：1-5Hz電極ギャップ：10-40…
- 型式
- SELFRAG AG SELFRAG Lab S2.0
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[171]無響室
・室内有効寸法:7.0m×8.5m×6.0mH・室内暗騒音レベル(A特性音圧レ…
- 型式
- 日本音響エンジニアリング
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[172]防音シールド室
・室内有効寸法：4.5m×3.9m×4.1mH(歩行床面から天井まで3.9m)…
- 型式
- 日本音響エンジニアリング
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
