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片平キャンパス 一覧
検索結果194件
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[650]感圧塗料計測システム
感圧塗料を用いた表面圧力分布計測システム。適応可能風速は用いる塗料により異なるが…
- 型式
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- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[651]ステレオPIVシステム
毎秒10フレームの二次元またはステレオ（面内の3成分）計測が可能なシステムになり…
- 型式
- ソフトウェア：Dantec Dynamics, Dynamic studio, カメラ： FlowsenseEO4M(2048pix×2048pix, PIV最大10Hz)
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[652]時系列PIVシステム
・最大6kHzでの時系列PIVデータを取得可能。・ハイスピードカメラを追加する…
- 型式
- Dantec Dynamics ソフトウェア：Dantec Dynamics, Dynamic studio, ダブルパルスレーザー: Photonics Industries DM-30-527
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[654]ハイスピードカメラ
画素数（ピクセル）1280×800撮影速度(コマ/秒)フルフレーム…
- 型式
- Vision Research Phantom ｖ2011
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[695]三次元アトムプローブ測定データ用解析ワークステーション
三次元アトムプローブにより測定されたデータの解析システム
- 型式
- DELL ワークステーション Precision 7920 タワー XCTO ベース
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[696]X線顕微鏡
X線エネルギー：8keV（CuKa）2Dおよび3D（CT）の撮影可空間分解能…
- 型式
- Carl Zeiss Xradia 800 Ultra
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[699]中型ECR堆積装置
Arプラズマ照射下での化学気相成長法によりSi-Ge-C系薄膜形成が可能。薄膜へ…
- 型式
- 日本シード研究所 PSU-801型
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[700]小型ECR堆積装置
Arプラズマ照射下での化学気相成長法によりSi-C系薄膜形成が可能。薄膜へのB及…
- 型式
- 日本シード研究所 PRC-002型
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[703]超低振動無冷媒ｵﾌﾟﾃｨｶﾙ･ｸﾗｲｵｽﾀｯﾄs50
用途：無冷媒クライオスタット性能：最低温度4K、試料空間：1センチ角程度、光学…
- 型式
- Montana Instruments
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[704]高速度カメラ①
フレームレート：フル視野（1024×1024）で4,000fps画素サイズ：…
- 型式
- フォトロン FASTCAM Mini AX type TT-SP
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[705]高速度カメラ②
フレームレート：フル視野（1024×1024）で12,800fps画素サイズ…
- 型式
- フォトロン FASTCAM Nova S12 Type TT-SP
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[718]クライオ透過電子顕微鏡装置
加速電圧300kV，200kV・μED法および単粒子解析法による有機薄膜、たんぱ…
- 型式
- 日本電子 JEM-3300
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
