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片平キャンパス 一覧
検索結果193件
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[718]クライオ透過電子顕微鏡装置
加速電圧300kV，200kV・μED法および単粒子解析法による有機薄膜、たんぱ…
- 型式
- 日本電子 JEM-3300
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[719]超微量粘度計
世界最少の試料量5～20μLで粘度を測定できる超微量粘度計(最少実施量2μL)…
- 型式
- ー
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[727]大気下光電子分光装置
光子エネルギー3.4～6.2eV
- 型式
- 理研計器 AC-2
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[729]FTIR
測定波数範囲：7,800～350cm-1最高分解能：0.4cm-1SN比：4…
- 型式
- JASCO FT/IR-6600
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[730]比表面積・細孔分布測定装置
比表面積測定可能範囲：>0.01m2/g細孔径測定可能範囲：0.35～400n…
- 型式
- Quantachrome Instruments QUADRASORB EVO4
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[731]UV-Vis-NIR
波長範囲：190～2,700nm光学系：シングルモノクロメータ、ダブルビーム…
- 型式
- JASCO V-770TWK
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[740]ハイスピードカメラ
フレームレート：フル視野（1280×800）で65,940fps画素サイズ：…
- 型式
- VisionResearch Phantom VRI-TMX6410-128G-MTH2
- 所在
- 国際放射光イノベーション・スマート研究センター / 片平キャンパス
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[741]FE-SEM/EDS
倍率：25-1,000,000加速電圧：0.01-30kV電子銃：イ…
- 型式
- 日本電子 JSM7800, Oxford X-Max
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[751_1]【ARIM】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Quanta 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[751_2]【分析コア】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Quanta 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[752_1]【ARIM】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Versa 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Versa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[752_2]【分析コア】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Versa 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Versa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
