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片平キャンパス 一覧
検索結果158件
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[695]三次元アトムプローブ測定データ用解析ワークステーション
三次元アトムプローブにより測定されたデータの解析システム
- 型式
- DELL ワークステーション Precision 7920 タワー XCTO ベース
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[696]X線顕微鏡
X線エネルギー：8keV（CuKa）2Dおよび3D（CT）の撮影可空間分解能…
- 型式
- Carl Zeiss Xradia 800 Ultra
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[699]中型ECR堆積装置
Arプラズマ照射下での化学気相成長法によりSi-Ge-C系薄膜形成が可能。薄膜へ…
- 型式
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- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[700]小型ECR堆積装置
Arプラズマ照射下での化学気相成長法によりSi-C系薄膜形成が可能。薄膜へのB及…
- 型式
- ー
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[703]超低振動無冷媒ｵﾌﾟﾃｨｶﾙ･ｸﾗｲｵｽﾀｯﾄs50
用途：無冷媒クライオスタット性能：最低温度4K、試料空間：1センチ角程度、光学…
- 型式
- Montana Instruments
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[704]高速度カメラ①
フレームレート：フル視野（1024×1024）で4,000fps画素サイズ：…
- 型式
- フォトロン FASTCAM Mini AX type TT-SP
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[705]高速度カメラ②
フレームレート：フル視野（1024×1024）で12,800fps画素サイズ…
- 型式
- フォトロン FASTCAM Nova S12 Type TT-SP
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[718]クライオ透過電子顕微鏡装置
加速電圧300kV，200kV・μED法および単粒子解析法による有機薄膜、たんぱ…
- 型式
- 日本電子 JEM-3300
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[719]超微量粘度計
世界最少の試料量5～20μLで粘度を測定できる超微量粘度計(最少実施量2μL)…
- 型式
- ー
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[727]大気下光電子分光装置
光子エネルギー3.4～6.2eV
- 型式
- 理研計器 AC-2
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[729]FTIR
測定波数範囲：7,800～350cm-1最高分解能：0.4cm-1SN比：4…
- 型式
- JASCO FT/IR-6600
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[730]比表面積・細孔分布測定装置
比表面積測定可能範囲：>0.01m2/g細孔径測定可能範囲：0.35～400n…
- 型式
- Quantachrome Instruments QUADRASORB EVO4
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
