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片平キャンパス 一覧
検索結果156件
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[099]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム
・インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加…
- 型式
- 日本電子 JSM-7800F
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[100]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム(クロスセクションポリッシング)
柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。・…
- 型式
- 日本電子 IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[1005]レーザーラマン顕微鏡
- 型式
- 堀場製作所 LabRAM HR-800
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1006]AFM
- 型式
- ParkSystems NX10-T2
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1007]スパッタ装置
- 型式
- アルバック九州(株) QAM-4-S
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[101]低乱熱伝達風洞
密閉型測定部:1.01m正八角形最大風速70m/s,開放型測定部:0.81m…
- 型式
- 荏原製作所 単路回流型風洞
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[1016]小型低騒音風洞
開放型測定部:幅0.3m×高さ0.5m最大風速45m/s詳細は以下リンクを参…
- 型式
- 三菱重工業
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[102]小型低乱風洞
密閉型測定部:0.29m正八角形最大風速70m/s,開放型測定部:0.293…
- 型式
- 荏原製作所 単路回流型
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[1029]TEM/SEM用イオンミリング装置
- 型式
- (米)E.A.Fischione Instruments社製 TEMミル モデル1051
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1041]ナノイオンダイナミクス AV400WB
3軸の磁場勾配装置を装備した、NMRマイクロイメージング・拡散係数測定用。固体…
- 型式
- BURUKER BIOSPIN AvanceII 400WB
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1045]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200kV(LaB6電子銃)・EDSマッピング
- 型式
- 日本電子 JEM-2100Plus
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1046]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200KV/80KV・球面収差補正装置(照射系)・EDS分析…
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F (STEMコレクタ)
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス