FIB 一覧
検索結果15件
-
[070]FIBSEM（微細加工システム）
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
-
[1047_1]【ARIM】プラズマ集束イオンビーム加工装置
- 型式
- TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[1047_2]【分析コア】プラズマ集束イオンビーム加工装置
- 型式
- TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[1094]XeプラズマFIB-SEM
FE-SEMとしても利用できます。大面積のEDS（OxfordInstrume…
- 型式
- TESCAN S8000X
- 所在
- 理学研究科 / 青葉山キャンパス
-
[111]FIB／SEM（NVision40）
トリプルビーム方式
- 型式
- Carl Zeiss Microscopy N-Vision40
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
-
[1206]FIB
- 型式
- SII SMI9200
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
-
[1209_1]【ARIM】集束イオンビーム加工装置(技術代行適応料金)
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D及びVersa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[1209_2]【分析コア】集束イオンビーム加工装置(技術代行適応料金)
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D及びVersa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[259]SMI500ナノ加工顕微鏡システム 一式〔リンク〕
- 型式
- 日立ハイテクサイエンス(エスアイアイ･ナノテクノロジー) SMI500
- 所在
- 工学研究科（機械・知能系） / 青葉山キャンパス
-
[384]Helios600i FIB/SEMデュアルビームシステム
- 型式
- FEI Helios600i
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
-
[639]集束イオンビーム加工観察装置
最大電流密度：50A/cm加速電圧：2-40kV日立HF-2000形…
- 型式
- 日立ハイテク FB2100
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
-
[751_1]【ARIM】集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Quanta 3D）
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
