FIB 一覧
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[070]微細加工システム FIB/SEM デュアルビームシステム
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[1009]FIB/SEM/STEMシステム
- 型式
- 日本電子株式会社 JIB-PS500i/JEM-ARM200F
- 所在
- 工学研究科（マテリアル・開発系） / 青葉山キャンパス
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[111]FIB／SEM（NVision40）
トリプルビーム方式
- 型式
- Carl Zeiss Microscopy N-Vision40
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[384]Helios600i FIB/SEMデュアルビームシステム
- 型式
- FEI Helios600i
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[639]集束イオンビーム加工観察装置
最大電流密度：50A/cm加速電圧：2-40kV日立HF-2000形…
- 型式
- 日立ハイテク FB2100
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
