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26_電気通信研究所 一覧
検索結果59件
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[026]超精密格子定数測定用X線回折装置
用途・薄膜試料の結晶構造解析特徴・最小精度0.00002oのゴニオメー…
- 型式
- リガク XRD, SuperLab
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[027]高分解能X線回折装置
用途・薄膜試料の結晶構造解析特徴・2次元検出器を用いた高速なX線回折測…
- 型式
- PANalytical/Spectris(Philips Analytical) XRD, X`Pert PRP MRD
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[056]電子ビーム蛍光X線元素分析装置
用途表面観察、元素分析（EDXWDX）結晶方位解析（EBSD）仕様電子…
- 型式
- 日立 電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[057]X線励起蛍光X線元素分析装置
用途粉末、液体試料の組成分析仕様分光方法：波長分散型X線分光（WDX）測…
- 型式
- リガク X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[097]高分解能走査型電子顕微鏡
用途表面観察、測長、元素分析（EDX）仕様電子銃：冷陰極電界放出型分解能…
- 型式
- 日立 高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[109]電子線描画装置（JBX-9300SA）
加速電圧100kV,5mm~6inchウエハ対応
- 型式
- 日本電子 JBX-9300SA
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[111]FIB／SEM（NVision40）
トリプルビーム方式
- 型式
- Carl Zeiss Microscopy N-Vision40
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[171]無響室
・室内有効寸法:7.0m×8.5m×6.0mH・室内暗騒音レベル(A特性音圧レ…
- 型式
- 日本音響エンジニアリング
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[172]防音シールド室
・室内有効寸法：4.5m×3.9m×4.1mH(歩行床面から天井まで3.9m)…
- 型式
- 日本音響エンジニアリング
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[309]高清浄熱処理炉（3FCR）
O2,N2,Ar,H2,H2+O2雰囲気中での熱処理が可能。300～10…
- 型式
- WAF3000
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[562]SEM（JSM-7401F）
2次電子像分解能加速電圧15kV:1.0nm、1kVGBモード1.5nm
- 型式
- 日本電子 JSM-7401F
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[563]プラズマアッシャー（PR500）
高周波出力:500W,反応ガス:O2
- 型式
- ヤマト科学 PR500
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
