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片平キャンパス 一覧
検索結果136件
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[599]多機能薄膜材料評価X線回折装置
-Straightforwardcoplanarandnon-copla…
- 型式
- Bruker D8 Discover
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[602]マスクアライナー（3FCR）
●用途集積回路試作用フォトレジストパターンの形成●性能基板サイズ:5…
- 型式
- SUSS MicroTec MJB4
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[603]レーザー直接描画装置
●用途フォトリソグラフィ用レジストへの直接描画●性能レーザー光源波長:…
- 型式
- ネオアーク DDB-201-TU375
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[604]原子間力顕微鏡（Veeco）
●用途走査型プローブ顕微鏡の探針によるナノメートルスケールの加工機能・…
- 型式
- Bruker Dimension Icon
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[605]レーザー共焦点顕微鏡（Lasertec）
●用途試料表面のマイクロ～ナノメートルスケールの段差や粗さの非接触測定●…
- 型式
- レーザーテック H1200
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[615]強力X線粉末構造解析装置
粉末試料の構造解析が可能．Cu管球（Kα線：1.54056Å)
- 型式
- リガク RINT-2500LAUE
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[616]単結晶試料方位確認装置(ラウエ)
1mm2以上の単結晶試料に対して，結晶方位の確認が可能．W管球(常用30kV/2…
- 型式
- マックサイエンス M03XHF-E
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[637]熱拡散測定装置
温度範囲：室温～500°C、熱拡散率：0.01mm2/s～2000mm2/s
- 型式
- Netzsch LFA467
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[638]ナノインデンター
荷重範囲：100nN～10N(約10μg～1kg)測定モード：準静的モードおよ…
- 型式
- 東陽テクニカ G200
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[639]集束イオンビーム加工観察装置
最大電流密度：50A/cm加速電圧：2-40kV日立HF-2000形…
- 型式
- 日立ハイテク FB2100
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[644]ハイスピードカメラ
1024×1024ピクセルの画像にて最大12500フレーム/秒の画像が取得可能
- 型式
- Photron Fastcam SA-X2 (1024pix×1024pix 12500fps)
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[645]ボール・オン・リング型 摩擦試験機
TE54は、純粋な転がり条件、転がりとすべりの混合条件、あるいは純粋なすべり条件…
- 型式
- Phenix Tripology TE54
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
