- ID
- 131
- 設備・機器分類
- 観察 ｜ 電子顕微鏡・EPMA
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- 日本電子
- 型式
- JSM-7100F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：1-30 kV
分解能：1.2nm (@30kV), 3.0nm (@1kV)
電子銃：ショットキー電子銃（Thermal）
観察モード：二次電子、反射電子、結晶方位マップ（IPF, IQ, G.B.マップ）
付属装置：エネルギー分散型X線分光器（EDX-SDD）
反射電子検出器
結晶方位解析装置（EBSD） - 用途・使用目的
- セラミックスや金属などの形態観察、元素分析（点、マッピング、定性、定量）、結晶方位解析
- キャンパス
- 青葉山キャンパス
- 部局
- 工学研究科（本部）
- 管理部署
- 技術部 合同計測分析室
- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/79
- 備考
- 試料が完全乾燥していること、且つ試料表面が導電状態である必要があります。
試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。
