物性評価 一覧
検索結果67件
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[398]振動試料型磁力計 VSM-P7
- 型式
- 東英工業 VSM-P7
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[399]磁気異方性トルク TM-TR2050-HGC-MG
- 型式
- 玉川製作所 TM-TR2050-HGC-MG
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[400]バルク試料用磁気異方性トルク磁力計
- 型式
- ー
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[401]電子スピン共鳴測定システム E-500
E-500・X-band・Q-band・低温クライオスタット(10K~)(…
- 型式
- ー
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[406]超高周波透磁率測定装置
測定周波数：1MHz～9GHz。Sパラメータ法。最大印加外部磁場2kOe。
- 型式
- 凌和電子 PMM-9G1
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[418]熱分析装置 一式
TG-DTA：常用最高温度1350℃、最大昇温速度100℃/min、TG測定レン…
- 型式
- リガク Thermo Plus Evo 2 TD
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[493]ウェハゴミ検査装置
ウェハ上のパーティクル測定（数、大きさ）
- 型式
- トプコン WM-3
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[494]膜厚計
光学式の膜厚測定
- 型式
- ナノメトリクス NanoSpec3000
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[495]Dektak 段差計
触針式の表面形状測定
- 型式
- Dektak Dektak 8
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[496]Tenchor 段差計
触針式の表面形状測定
- 型式
- Tencor AlphaStep
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[497]深さ測定装置
光学式の非接触深さ測定装置
- 型式
- ユニオン光学 Hisomet
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[498]4探針測定装置
ウェハ抵抗率などの測定
- 型式
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- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
