物性評価 一覧
検索結果55件
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[401]電子スピン共鳴測定システム E-500
E-500・X-band・Q-band・低温クライオスタット(10K~)(…
- 型式
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- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[406]超高周波透磁率測定装置
測定周波数：1MHz～9GHz。Sパラメータ法。最大印加外部磁場2kOe。
- 型式
- 凌和電子 PMM-9G1
- 所在
- 工学研究科（電子情報システム・応物系） / 青葉山キャンパス
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[418]熱分析装置 一式
TG-DTA：常用最高温度1350℃、最大昇温速度100℃/min、TG測定レン…
- 型式
- リガク Thermo Plus Evo 2 TD
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[517]共振ずり測定装置
固体表面間の液体薄膜の特性(粘性,弾性,摩擦･潤滑)を評価できる試料体…
- 型式
- アルバック理工 RSM-1
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[543]レーザ回析式粒度分布測定装置〔リンク〕
- 型式
- Malvern Instruments マスターサイザー3000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[555]絶対PL量子収率測定装置
PL測定波長範囲:300－950nm励起波長範囲:250－850nm…
- 型式
- 浜松ホトニクス Quantaurus-QY C11347-01
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[583]段差計（DEKTAK XT-A)
用途：試料表面に形成された段差、表面形状、表面粗さ評価
- 型式
- Bruker DEKTAK XT-A
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[591]4探針抵抗率測定器（Si室）
プローブ間隔0.635mm。プローブ先端曲率40ミクロン。最大針圧200g。
- 型式
- ナプソン RT-70/RG-7
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[593]原子スケール評価分析システム（Si室）
反射高速電子回折（RHEED）。最大加速電圧は0kV。最大試料サイズ4mm角ある…
- 型式
- Omicron
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[621]ナノレンジ押し込み硬さ試験機〔リンク〕
- 型式
- フィッシャー・インストルメンツ PICODENTOR HM500
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 青葉山キャンパス
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[622]デジタルビッカース硬さ試験機〔リンク〕
- 型式
- マツザワ VMT-X7S
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 青葉山キャンパス
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[623]ショア硬度計〔リンク〕
- 型式
- 今井精機 ショア硬度計D型
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 青葉山キャンパス
