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検索結果679件
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[1039]ベンチトップ型共焦点顕微鏡BC43
【イメージングモード】共焦点（レーザー）、蛍光（レーザー）、透過光（LED）（明…
- 型式
- ANDOR BC43
- 所在
- 病院 / 星陵キャンパス
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[1040]ウェハマッピング分光エリプソ〔リンク〕
薄膜の厚さ、屈折率測定サンプルサイズ：小片～8インチ測定波長域：210～16…
- 型式
- (米)J.A.Woollam RC2-UI-TTk
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[1041]ﾅﾉｲｵﾝﾀﾞｲﾅﾐｸｽ AV400WB
３軸の磁場勾配装置を装備した、NMRマイクロイメージング・拡散係数測定用。固体…
- 型式
- BURUKER BIOSPIN AvanceII 400WB
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1042]炭素・水素・窒素同時定量装置〔リンク〕
- 型式
- ヤナコテクニカルサイエンス JM10
- 所在
- 理学研究科附属巨大分子解析研究センター / 青葉山キャンパス
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[1043]マルチタイプICP発光分光分析装置〔リンク〕
- 型式
- ㈱島津製作所製 ICPE-9820
- 所在
- 理学研究科附属巨大分子解析研究センター / 青葉山キャンパス
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[1044]デュアルバンドX線単結晶構造解析装置〔リンク〕
- 型式
- ㈱リガク社製 XtaLAB Synergy
- 所在
- 理学研究科附属巨大分子解析研究センター / 青葉山キャンパス
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[1045]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200kV(LaB6電子銃)・EDSマッピング
- 型式
- 日本電子 JEM-2100Plus
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1046]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
・加速電圧200KV/80KV・球面収差補正装置（照射系）・EDS分析…
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F (STEMコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1047]プラズマ集束イオンビーム加工装置(Amber-X)〔リンク〕
・SEM:加速電圧0.5kV～30kV高輝度ショットキー電子銃・FI…
- 型式
- 東陽テクニカ TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[105]弾道飛行装置
最高射出速度6km/s､射出形式(ガス銃､一段式火薬銃､二段式軽ガス銃)
- 型式
- Physics Applications Inc 射出速度 100m/s ～6km/s､射出形式(1段式ガス銃､一段式火薬銃､二段式軽ガス銃)
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[1054]エンジン発電機
エンジン部定格出力48.1ｋW、使用燃料軽油、燃料タンク容量160ℓ、排出ガス…
- 型式
- 北越工業 ＳＤＧ60Ｓ-3A6
- 所在
- 農学研究科附属複合生態フィールド教育研究センター / 川渡フィールドセンター
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[1055]トラクター ヤンマーEG445(45PS,4WD)
45PS、4WD、キャビン、エアコン
- 型式
- ヤンマー EG445
- 所在
- 農学研究科附属複合生態フィールド教育研究センター / 川渡フィールドセンター
