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機関・部局 一覧
検索結果679件
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[096]3D測定レーザー顕微鏡
走査型共焦点レーザ顕微鏡は高密度化する半導体や微細加工されたMEMSなどの三次元…
- 型式
- オリンパス LEXT OLS
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[097]高分解能走査型電子顕微鏡
用途表面観察、測長、元素分析（EDX）仕様電子銃：冷陰極電界放出型分解能…
- 型式
- 日立 高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[099]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム
・インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加…
- 型式
- 日本電子 JSM-7800F
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[100]多種試料観察用走査電子顕微鏡システム(クロスセクションポリッシング)
柔らかい材料、硬い材料、脆い材料からも損傷の少ないSEM用断面試料作成装置。・…
- 型式
- 日本電子 IB-09020CP (クロスセクションポリッシング)
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[1004]解析用PC4
ZENDesk：https://www.zeiss.com/microscop…
- 型式
- ZEISS
- 所在
- 加齢医学研究所 / 星陵キャンパス
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[1005]レーザーラマン顕微鏡
- 型式
- 堀場製作所 LabRAM HR-800
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1006]AFM
- 型式
- ParkSystems NX10-T2
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1007]スパッタ装置
- 型式
- アルバック九州(株) QAM-4-S
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1008]クライオ走査型電子顕微鏡装置〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 CRYO-FIB-SEM JIB-4700F
- 所在
- 未来型医療創成センター / 星陵キャンパス
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[1009]FIB/SEM/STEMシステム
- 型式
- 日本電子株式会社 JIB-PS500i/JEM-ARM200F
- 所在
- 工学研究科（マテリアル・開発系） / 青葉山キャンパス
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[101]低乱熱伝達風洞
密閉型測定部：1.01m正八角形最大風速70m/s,開放型測定部：0.81m…
- 型式
- 荏原製作所 単路回流型風洞
- 所在
- 流体科学研究所 / 片平キャンパス
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[1010]赤外顕微イメージングシステム
機種：日本分光IRT-7000（FT/IR-6300）検出器：ミッドバンドM…
- 型式
- 日本分光 FT/IR 6300、IRT7000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
