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検索結果680件
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[1104]電界放出型走査電子顕微鏡 (S-4800・多元)
二次電子分解能：1.0nm（加速電圧15kV、WD=4mm）1.4nm…
- 型式
- ⽇⽴ハイテクノロジーズ製 S-4800
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1105]マグネトロンスパッタ装置・カーボンコーター
- 型式
- 真空デバイス製 MSP-1S、VC-100
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[1106]TEM
- 型式
- JEOL JEM-2100PLUS
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1107]TPD
- 型式
- ー
- 所在
- 材料科学高等研究所 / 片平キャンパス
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[1108]BEAMER Full Package〔リンク〕
電子線描画装置、レーザー描画装置用データ補正・近接効果補正・グレイスケール露…
- 型式
- GenISys Inc.
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[1109]KrFステッパ〔リンク〕
サンプルサイズ：小片～8インチ対応オリフラ(OF)：4""と6""インチはOF…
- 型式
- キヤノン FPA-3030EX6
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[111]FIB／SEM（NVision40）
トリプルビーム方式
- 型式
- Carl Zeiss Microscopy N-Vision40
- 所在
- 電気通信研究所 / 片平キャンパス
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[1110]マスクレスアライナ#2〔リンク〕
高速直接描画波長：405nmまたは375nm最小描画線幅：1.0µmオプテ…
- 型式
- Heidelberg Instruments MLA150
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[1111]NLDエッチング装置〔リンク〕
シリコン系以外の圧電体やガラス、サファイア、SiCなどのドライエッチングサンプ…
- 型式
- アルバック NLD-5700
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[1112]KLA Tencor 段差計〔リンク〕
触針式の表面形状測定サンプルサイズ：小片～8インチ
- 型式
- KLA Tencor P-16OF+
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[1113]日立FE-SEM〔リンク〕
電子線走査型顕微鏡小片～8インチΦ（全面観察は6インチΦまで）EDX付、低真…
- 型式
- 日立ハイテク SU8600
- 所在
- マイクロシステム融合研究開発センター / その他
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[1114]共焦点レーザー走査・スピニングディスクコンボ顕微鏡（FV5000）
【Model】倒立型InvertedMicroscope(IX85)【I…
- 型式
- EVIDENT FV5000-IX85SpinSR
- 所在
- 加齢医学研究所 / 星陵キャンパス
