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07_工学研究科（本部） 一覧
検索結果5件
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[1010]赤外顕微イメージングシステム
機種：日本分光IRT-7000（FT/IR-6300）検出器：ミッドバンドM…
- 型式
- 日本分光 FT/IR 6300、IRT7000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[1011]微小部蛍光X線分析装置
機種BrukerM4TORNADO+S26検出器超軽元素対応SSD検…
- 型式
- Bruker M4 TORNADO+ S26
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[130]透過型電子顕微鏡(FE-TEM)
加速電圧：200kV分解能：粒子像：0.19nm,格子像：0.1nm…
- 型式
- 日本電子 JEM-2100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[131]走査型電子顕微鏡・結晶方位解析(FE-SEM/EBSD)
加速電圧：1-30kV分解能：1.2nm(@30kV),3.0nm(@…
- 型式
- 日本電子 JSM-7100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[268]走査型プローブ顕微鏡システム
測定モード：AFM,DFM,Current(Nano,Pico)検出方…
- 型式
- 日立ハイテクサイエンス(エスアイアイ･ナノテクノロジー) NanoNaviReal
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
