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07_工学研究科（本部） 一覧
検索結果12件
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[1010]赤外顕微イメージングシステム
機種：日本分光IRT-7000（FT/IR-6300）検出器：ミッドバンドM…
- 型式
- 日本分光 FT/IR 6300、IRT7000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[1011]微小部蛍光X線分析装置
機種BrukerM4TORNADO+S26検出器超軽元素対応SSD検…
- 型式
- Bruker M4 TORNADO+ S26
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[1085]ガスクロマトグラフ質量分析計
型式：Agilent8890(GC),5977C(MS)イオン化：…
- 型式
- Agilent Technologies Agilent 8890, 5977C
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[1086]顕微レーザーラマン分光装置
機種：日本分光NRS-5100レーザー波長：532nm,785nm対物レ…
- 型式
- 日本分光 NRS-5100
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[130]透過型電子顕微鏡(FE-TEM)
加速電圧：200kV分解能：粒子像：0.19nm,格子像：0.1nm…
- 型式
- 日本電子 JEM-2100F
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[254]フーリエ変換赤外分光光度計〔リンク〕
- 型式
- 日本分光 FT/IR-6300ST
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[271]レーザーラマン分光光度計システム〔リンク〕
- 型式
- 日本分光 NRS-5100AMS
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[279]全自動波長分散型蛍光X線分析装置〔リンク〕
- 型式
- BrukerAX S8 TIGER(1kW)
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[541]ガスクロマトグラフ質量分析計
型式：Agilent6890N(GC),5975C(MS)イオン化：…
- 型式
- Agilent Technologies 6890N, 5975C
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[542]二重収束質量分析計
型式：JEOLJMS-700イオン化：EI（電子イオン化法）、FAB（高…
- 型式
- 日本電子 JMS-700
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[543]レーザ回析式粒度分布測定装置〔リンク〕
- 型式
- Malvern Instruments マスターサイザー3000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[8006]ICP-MSシステム
型式：Agilent8900ICP-MS質量範囲：第１四重極2~260am…
- 型式
- アジレント・テクノロジー Agilent 8900
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
