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検索結果697件
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[540]ダイナミトロン加速器装置
3MeV陽子、ヘリウム、重水素イオンビームによる材料照射、PIXE元素分析、RB…
- 型式
- Radiation Dynamics RPEA-4.5型
- 所在
- 工学研究科（機械・知能系） / 青葉山キャンパス
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[541]ガスクロマトグラフ質量分析計 (Agilent 6890N, 5975C)
型式：Agilent6890N(GC),5975C(MS)イオン化：…
- 型式
- Agilent Technologies 6890N, 5975C
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[542]二重収束質量分析計
型式：JEOLJMS-700イオン化：EI（電子イオン化法）、FAB（高…
- 型式
- 日本電子 JMS-700
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[543]レーザ回析式粒度分布測定装置〔リンク〕
- 型式
- Malvern Instruments マスターサイザー3000
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[544]赤外線加熱合成炉
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- クリスタルシステム FZ-4-10K-K-M
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[545]赤外線加熱単結晶育成装置
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- キャノンマシナリー SC-K15HD
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[546]赤外線加熱単結晶育成装置(整備品)
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- キャノンマシナリー SCII-EDH-KS
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[548]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・高分解能観察・EDS（点分析）・プリセッション電子回折
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549]透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・試料高傾斜・加熱ホルダー・冷却ホルダー
- 型式
- 日本電子 JEM-2000EX II
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV,80kV・収差補正（TEM/STEM)・EELS・STEM検…
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[551]イオンミリング加工装置〔リンク〕
終点検知・試料冷却
- 型式
- FISCHINE MODEL 1010
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[552]イオンスライサ加工装置〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 EM-09100 IS
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
