[774]半導体ホール測定装置

ID
774
設備・機器分類
観察 | 物性評価
利用区分
学内:〇, 学外:×
メーカー
理工貿易
型式
仕様・特徴
Van der Pauw法に基づく半導体移動度、キャリア濃度、ホール係数測定用。四端子ホールパターンが必要。常温・常圧動作のみ可。自動測定用ソフトウェア付き。
用途・使用目的
キャンパス
片平キャンパス
部局
電気通信研究所
管理部署
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/375
備考
【設備利用】
ホールパターンが形成されている試料である必要があります。試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。
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