- ID
- 099
- 設備・機器分類
- 観察 ｜ 電子顕微鏡・EPMA
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- 日本電子
- 型式
- JSM-7800F
- 仕様・特徴
- ・ インレンズショットキーPlus電子銃と超高分解能ジェントルビームの採用で低加速電圧の分析向上が図られた。
・ スーパーハイブリッドレンズの採用で、超高分解能観察と磁性材料観察、ＥＢＳＤ解析に最適なビームを照射できる。
・ 4種類の電子検出器とエネルギーフィルタを用いて各種の電子像を分離して検出できる。
・ 低真空モードで非導電性試料の観察を実現。
・ 大気非暴露冷却イオン断面装置との連携するトランスファーベッセルを実装。
・ 分解能： 0.8nm（15ｋＶ）
・ 加速電圧： 0.01kV～30kV
・ 試料照射電流： PA～500nA
・ 倍率： ×10～×1,000,000
・ 検出器： エネルギー分散型Ｘ線分析装置、結晶方位解析装置、反射電子検出器、上方二次電子検出器
・ 低真空モード： 10～300Ｐａ - 用途・使用目的
- ・表面形状のイメージング（例：絶縁性サンプルの無蒸着かつ高分解能観察、低加速電圧観察でのサンプル最表面観察）
・元素分布のイメージング
・結晶方位分布のイメージング
・大気非暴露下での観察（例：アルカリ金属、リチウムイオン電池、吸湿性を有する高反応性サンプルの観察） - キャンパス
- 片平キャンパス
- 部局
- 産学連携先端材料研究開発センター
- 管理部署
- ー
- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/53
- 学外利用料金
※更新の都合で実際の料金とは異なる場合がございます。 - 本人利用： 7,710円 / 時間
JSM-JEE-420TまたはCADE-E装置によるカーボン蒸着： 534円 / 1回 - 学内利用料金
- 上記予約サイトのURLより設備統合管理システムにログインの上、ご確認ください。
- 【閲覧用】設備予約カレンダー
- カレンダーは公開されていません。
- 備考
- 使用する消耗品（試薬等）は、別途実費分を負担していただきます。
