- ID
- 10462
- 設備・機器分類
- 観察 ｜ 電子顕微鏡・EPMA
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- JEOL
- 型式
- JEM-ARM200F (STEMコレクタ）
- 仕様・特徴
- ー
- 用途・使用目的
- ー
- キャンパス
- 片平キャンパス
- 部局
- 金属材料研究所
- 管理部署
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- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/1098?utm_source=portal&utm_medium=link
- 学外利用料金
※更新の都合で実際の料金とは異なる場合がございます。 - 学外料金（１）： 7,576円 / 時間
学外料金（２）： 4,510円 / 時間
技術支援料A： 3,465円 / 時間
技術支援料B： 6,814円 / 時間
技術支援料B（時間外利用）： 10,221円 / 時間
技術支援料A（時間外利用）： 5,197円 / 時間
FIB 試料用グリッド Cu： 577円 / 個
試料作製準備室使用料（4H単位）： 924円 / 4時間
FIB 試料用グリッド Si： 3,280円 / 個
FIB 試料用グリッド Mo： 3,118円 / 個
FIB 試料用グリッド Ti： 3,234円 / 個
FIB 試料用グリッド Ni： 2,079円 / 個
FIB Amber-X用アパーチャー使用料（600μm）： 150円 / 時間
FIB Amber-X用アパーチャー使用料（800μm）： 369円 / 時間 - 学内利用料金
- 上記予約サイトのURLより設備統合管理システムにログインの上、ご確認ください。
- 【閲覧用】設備予約カレンダー
- カレンダーは公開されていません。
- 備考
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