- ID
- 008
- 設備・機器分類
- 観察 ｜ 物性評価
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- コムスキャンテクノ
- 型式
- 高精細小型標本用装置ScanXmate-D160TSS105／11000 ほか
- 仕様・特徴
- 高分解能CTスキャンシステム
１）高精細小型標本用装置ScanXmate-D1160TSS105/11000
・X線検出器：フラットパネルセンサ：127?m 105万 130mm F.P.
・透過型開放管：160kV 200mA または100kV 200mA(小焦点用)
・最小分解能1μm
※試料の大きさ：おおむねΦ5ｍｍ以下。
※CT断層像は、BITMAP, JPEG, TIFF(8bit, 16bit), DICOM形式となります。
２）高出力大型標本用装置ScanXmate-D180RSS270
・X線検出器：フラットパネルセンサ：画素サイズ100μm、マトリックス サイズ2992×2496 （ボクセルワークス社改修）
・透過型開放管：200kV 200mA
・最小分解能4μm
※試料の大きさ：おおむねΦ15cｍ以下。
※CT断層像は、BITMAP, JPEG, TIFF(8bit, 16bit), DICOM形式となります。
表面観察システム キーエンス社製 VHX-D500.VHX-1020
・試料サイズ：Φ100mm 資料高さ30mm - 用途・使用目的
- 非破壊による内部構造の観察
- キャンパス
- 青葉山キャンパス
- 部局
- 学術資源研究公開センター
- 管理部署
- 総合学術博物館
- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/6
- 備考
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