[131]走査型電子顕微鏡・結晶方位解析(FE-SEM/EBSD)

ID
131
設備・機器分類
観察 | 電子顕微鏡・EPMA
利用区分
学内:〇, 学外:〇
メーカー
日本電子
型式
JSM-7100F
仕様・特徴
加速電圧:1-30 kV
分解能:1.2nm (@30kV), 3.0nm (@1kV)
電子銃:ショットキー電子銃(Thermal)
観察モード:二次電子、反射電子、結晶方位マップ(IPF, IQ, G.B.マップ)
付属装置:エネルギー分散型X線分光器(EDX-SDD)
反射電子検出器
結晶方位解析装置(EBSD)
用途・使用目的
セラミックスや金属などの形態観察、元素分析(点、マッピング、定性、定量)、結晶方位解析
キャンパス
青葉山キャンパス
部局
工学研究科(本部)
管理部署
技術部 合同計測分析室
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/79
学外利用料金

※更新の都合で実際の料金とは異なる場合がございます。
本人利用: 6,436円 / 時間
学内利用料金
上記予約サイトのURLより設備統合管理システムにログインの上、ご確認ください。
備考
試料が完全乾燥していること、且つ試料表面が導電状態である必要があります。
試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。
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