- ID
- 072
- 設備・機器分類
- 観察 ｜ 電子顕微鏡・EPMA
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- 日本電子
- 型式
- JXA-8530Ｆ
- 仕様・特徴
- 電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析
・ 加速電圧： 1～30ｋV、二次電子分解能：3nm、倍率：×40～×300,000
・ 分析元素範囲： B～U 、X線分光範囲WDS： 0.087～9.3nm、EDSエネルギーレンジ： 20ｋeV
・ 相分析プログラム： 波形分離、相分布、任意曲面マップ、粒子計測
【軟X線分光器 SXES日本電子（㈱）製SS-94000SXES について】
・取得エネルギー範囲：50-200eVを含む範囲以上。
・エネルギー分解能は、0.35eV 以下（Al-L 発光スペクトル＠73eV 25%-75%高さでのエ
ネルギー幅）
・不等間隔回折格子（2種類）であり、それぞれの回折格子毎の分光範囲を同時に計
測できること。
１．エネルギー領域50-160eV 入射角4.0°1200l/mm(Auレプリカ)
２．エネルギー領域80-200eV 入射角3.0°1200l/mm(AuレプリカNiコート)
軟X線分光器（オプション）により、これまで検出が困難であったLiなどの軽元素が検出できるようになると共に、EPMAのWDS機能との併用により、ワンストップでの組成解析が可能。軽元素の状態マッピングに威力を発揮する。 - 用途・使用目的
- 金属、新素材、触媒、半導体、鉄鋼材料、スラグ、コンクリートなどの工業分野をはじめ、地質、鉱物、隕石など
- キャンパス
- 片平キャンパス
- 部局
- 産学連携先端材料研究開発センター
- 管理部署
- ー
- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/43
- 学外利用料金
※更新の都合で実際の料金とは異なる場合がございます。 - 本人利用： 7,639円 / 時間
軟X線分光器： 978円 / 時間
JSM-JEE-420TまたはCADE-E装置によるカーボン蒸着： 534円 / 1回 - 学内利用料金
- 上記予約サイトのURLより設備統合管理システムにログインの上、ご確認ください。
- 備考
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