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20_金属材料研究所 一覧
検索結果43件
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[1045_1]【ARIM】分析透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2100Plus
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1045_2]【分析コア】分析透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2100Plus
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1046_1]【ARIM】超高分解能透過電子顕微鏡（STEMコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (STEMコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1046_2]【分析コア】超高分解能透過電子顕微鏡（STEMコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (STEMコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1047_1]【ARIM】プラズマ集束イオンビーム加工装置
- 型式
- TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1047_2]【分析コア】プラズマ集束イオンビーム加工装置
- 型式
- TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1209_1]【ARIM】集束イオンビーム加工装置(技術代行適応料金)
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D及びVersa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1209_2]【分析コア】集束イオンビーム加工装置(技術代行適応料金)
- 型式
- Thermo Fisher Scientific Quanta 3D及びVersa 3D
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1211]材料分析研究コア・元素分析室
誘導結合プラズマ発光分光分析装置誘導結合プラズマ質量分析装置原子吸光分析装置…
- 型式
- ー
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1212_1]【ARIM】イオンミリング加工装置（PIPSⅡ）
- 型式
- ｶﾞﾀﾝ社 PIPSⅡ
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1212_2]【分析コア】イオンミリング加工装置（PIPSⅡ）
- 型式
- ｶﾞﾀﾝ社 PIPSⅡ
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[294]分析走査電子顕微鏡
・分解能：高真空モード3.0nm（30kV）,8nm（3kV）,15…
- 型式
- 日本電子 JSM-6610A（OIM結晶方位解析装置含む）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
