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20_金属材料研究所 一覧
検索結果28件
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[1045]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 JEM-2100Plus
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1046]原子分解能分析電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- 日本電子 JEM-ARM200F (STEMコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[1047]プラズマ集束イオンビーム加工装置(Amber-X)〔リンク〕
- 型式
- 東陽テクニカ TESCAN Amber-X
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[294]分析走査電子顕微鏡
・分解能：高真空モード3.0nm（30kV）,8nm（3kV）,15…
- 型式
- 日本電子 JSM-6610A（OIM結晶方位解析装置含む）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[526]分析走査電子顕微鏡
・写真倍率：×5～300,000(128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規…
- 型式
- 日本電子 JSM-IT200(A)
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[527]フーリエ変換顕微赤外分光装置〔リンク〕
- 型式
- Thermo Fisher Scientific
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[528]X線装置〔リンク〕
- 型式
- パナリティカル
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[544]赤外線加熱合成炉
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- クリスタルシステム FZ-4-10K-K-M
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[545]赤外線加熱単結晶育成装置
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- キャノンマシナリー SC-K15HD
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[546]赤外線加熱単結晶育成装置(整備品)
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- キャノンマシナリー SCII-EDH-KS
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[548]分析透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・高分解能観察・EDS（点分析）・プリセッション電子回折
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549]透過電子顕微鏡〔リンク〕
加速電圧200ｋV・試料高傾斜・加熱ホルダー・冷却ホルダー
- 型式
- 日本電子 JEM-2000EX II
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
