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キャンパス 一覧
検索結果686件
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[062]モジュラーコンパクトレオメーター
・粘弾性測定、材料特性評価・駆動ベアリング方式：空気・ECモーター：あり・…
- 型式
- Anton-Paar MCR302
- 所在
- 多元物質科学研究所 / 片平キャンパス
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[064]接触角・表面張力計
下記のトライボロジー融合研究拠点のページを参照してください。http://tr…
- 型式
- 協和界面科学 DM-301
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[065]摩擦試験機
特徴：本装置は、室温から150℃までの温度範囲において摩擦摩耗試験を行うことが可…
- 型式
- Bruker AXS UNMT-1MT-WS
- 所在
- 未来科学技術共同研究センター / 片平キャンパス
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[068]多目的X線結晶構造解析システム
・光学系部は、Cu。・１次元高速検出器は、検出素子が800μm厚のSili…
- 型式
- リガク SmartLab 3G
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[069]多目的X線結晶構造解析システム
・光学系部は、ミラーの切り替えでCu,Moの２波長に対応可能。・検出器…
- 型式
- リガク VariMax DW with IP
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[070]微細加工システム FIB/SEM デュアルビームシステム
・FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。・TEM試料作製及びア…
- 型式
- FEI Electron Optics Helios600i
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[072]電界放出型電子プローブマイクロアナライザ
電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析・加速電…
- 型式
- 日本電子 JXA-8530Ｆ
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[073]多機能走査型X線光電子分光分析装置
・走査型X線源によりビーム径は、10μm～200μmの間で設定可能。・S…
- 型式
- アルバック・ファイ PHI-5000VersaProbeⅡ-TSS
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[074]顕微可視赤外分光システム
・時間分解発光測定用ストリークカメラと励起用レーザーを用いて発光分光測定、スト…
- 型式
- 東京インスツルメンツ NX-FLIM-TO3
- 所在
- 産学連携先端材料研究開発センター / 片平キャンパス
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[085]サブオングストローム電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- FEI Titan80-300
- 所在
- 研究推進・支援機構（先端電子顕微鏡センター） / 片平キャンパス
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[086]低加速高分解能走査電子顕微鏡〔リンク〕
- 型式
- 日立 SU8000
- 所在
- 研究推進・支援機構（先端電子顕微鏡センター） / 片平キャンパス
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[088]透過電子顕微鏡
加速電圧100kVクラスの透過電子顕微鏡で（現在は80kv上限）、生物試料の観察…
- 型式
- 日立 H-7650
- 所在
- 農学研究科 / 青葉山キャンパス
