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検索結果732件
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[541]ガスクロマトグラフ質量分析計
型式：Agilent6890N(GC),5975C(MS)イオン化：…
- 型式
- Agilent Technologies 6890N, 5975C
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[542]二重収束質量分析計
型式：JEOLJMS-700イオン化：EI（電子イオン化法）、FAB（高…
- 型式
- 日本電子 JMS-700
- 所在
- 工学研究科（本部） / 青葉山キャンパス
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[544]赤外線加熱合成炉
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- クリスタルシステム FZ-4-10K-K-M
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[545]赤外線加熱単結晶育成装置
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- キャノンマシナリー SC-K15HD
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[546]赤外線加熱単結晶育成装置(整備品)
最高2000℃程度までの融点を持つ試料の単結晶育成が可能。(例：ルビー、銅酸化物…
- 型式
- キャノンマシナリー SCII-EDH-KS
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[548_1]【ARIM】分析電子顕微鏡
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[548_2]【分析コア】分析電子顕微鏡
- 型式
- TOPCON EM-002B
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549_1]【ARIM】透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2000EXII
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[549_2]【分析コア】透過電子顕微鏡
- 型式
- JEOL JEM-2000EXII
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550_1]【ARIM】超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (ダブルコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[550_2]【分析コア】超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）
- 型式
- JEOL JEM-ARM200F (ダブルコレクタ）
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
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[551]イオンミリング加工装置〔リンク〕
終点検知・試料冷却
- 型式
- FISCHINE MODEL 1010
- 所在
- 金属材料研究所 / 片平キャンパス
