[416]X線位相スキャナ

ID
416
設備・機器分類
分析 | X線分析
利用区分
学内:〇, 学外:〇
メーカー
型式
仕様・特徴
試料によるX線の吸収、屈折、散乱を画像化。
スキャンスピード5mm/s、空間分解能200?m程度、X線管電圧40~50kV
用途・使用目的
キャンパス
片平キャンパス
部局
多元物質科学研究所
管理部署
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/202
備考
参考文献 S. Bachche et al, "Laboratory-based X-ray phaseimaging scanner using Talbot-Lau interferometer for non-destructive testing," Sci. Rep. 7, 6711 (2017)
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