[027]高分解能X線回折装置

ID
027
設備・機器分類
分析 | X線分析
利用区分
学内:〇, 学外:〇
メーカー
PANalytical/Spectris(Philips Analytical)
型式
XRD, X`Pert PRP MRD
仕様・特徴
用 途
・薄膜試料の結晶構造解析
特 徴
・2次元検出器を用いた高速なX線回折測定や逆格子マッピング測定が可能。
・逆格子マッピング測定では、エピタキシャル試料などの格子定数の違いを視覚化。
・X線反射率測定(XRR)に対応し、有機/無機、結晶/非結晶を問わず、膜厚・密度解析が可能。
・圧延した試料などの極点図測定が可能で、結晶方位解析にも対応。
・25oCから900oCまで制御可能な高温ステージを有しており、試料の相転移などを測定可能。
用途・使用目的
キャンパス
片平キャンパス
部局
電気通信研究所
管理部署
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/18
備考
4測定軸+1制御軸の5軸測定が可能です。二次元検出器に対応しており、高速測定が可能です。
消耗品等:記録用CD
チャットボット ハギボー