- ID
- 068
- 設備・機器分類
- 分析 ｜ X線分析
- 利用区分
- 学内：〇, 学外：〇
- メーカー
- リガク
- 型式
- SmartLab 3G
- 仕様・特徴
- ・ 光学系部は、Cu。
・ １次元高速検出器は、検出素子が800μm厚のSilicon Strip Detectorで有効面積256mm2、ストリップ幅100ミクロンの直接検出型半導体ストリップ検出器となっている。
・ X線発生装置部の最大定格出力：３ｋW
・ ゴニオメータ部： 試料水平配置型θーθゴニオメータ
・ ターゲット：Ｃｕ
・気密試料ホルダー使用対応 - 用途・使用目的
- 薄膜試料・粉末試料・バルク試料の構造解析
●定性分析 ●定量分析 ●薄膜評価 ●粒径評価 ●結晶性評価 ●応力評価 ●配向評価 - キャンパス
- 片平キャンパス
- 部局
- 産学連携先端材料研究開発センター
- 管理部署
- ー
- 設備担当者
- 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
- 予約サイトのURL
- https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/40
- 学外利用料金
※更新の都合で実際の料金とは異なる場合がございます。 - 本人利用： 6,800円 / 時間
- 学内利用料金
- 上記予約サイトのURLより設備統合管理システムにログインの上、ご確認ください。
- 備考
- ー
