[130]透過型電子顕微鏡(FE-TEM)

ID
130
設備・機器分類
観察 | 電子顕微鏡・EPMA
利用区分
学内:〇, 学外:〇
メーカー
日本電子
型式
JEM-2100F
仕様・特徴
加速電圧:200 kV
分解能:粒子像:0.19 nm, 格子像:0.1 nm
電子銃:ショットキー型FE電子銃
プローブモード:TEM, STEM
付属装置:エネルギー分散型X線分光器(EDX)[検出元素:B~U,エネルギー分解能:133 eV]
走査透過電子顕微鏡(STEM)Dark-STEM
高精細ボトムマウントCCDカメラ
各種試料ホルダー[ベリリウム2軸傾斜]
用途・使用目的
局所領域における構造解析(明視野像、暗視野像、高分解能像、電子線回折)、元素分析(点、マッピング、定性、定量)
キャンパス
青葉山キャンパス
部局
工学研究科(本部)
管理部署
技術部 合同計測分析室
設備担当者
利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。
予約サイトのURL
https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/equipment/detail/1/78
学外利用料金

※更新の都合で実際の料金とは異なる場合がございます。
本人利用: 10,779円 / 時間
学内利用料金
上記予約サイトのURLより設備統合管理システムにログインの上、ご確認ください。
備考
試料が観察用グリッド(φ3mm)に固定されている、もしくは薄片化されている必要があります。
試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。
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